Фильтр
По популярности (убывание)
По популярности (убывание)
Тестирование компонентов
В наличии
Лазер T500S с плавной настройкой используется в научно-исследовательских лабораториях и на производстве и применяется для быстрой и непрерывной настройки длины волны.
Заказать
Тестирование компонентов
В наличии
Платформа OSICS является 8-ми слотовой модульной системой для проведения тестирований оптоволоконных компонентов, а также для оценки систем плотного мультиплексирования с разделением по длине волны (DWDM).
Заказать
Тестирование компонентов
В наличии
MAP-300 представляет собой многофункциональную платформу для тестирования и измерения оптических систем и характеристик. Оборудование обладает двумя конфигурациями: MAP-380, имеющую в своем составе 8 слотов, и MAP-330, содержащую 3 слота. Выпускаются данные модели в стоечном и настольном исполнении.
Заказать
Тестирование компонентов
В наличии
Платформа CTP10 предназначена для тестирования и измерения характеристик пассивных оптических компонентов, таких как: вносимые потери (IL), обратные потери (RL), поляризационно-зависимые потери (PDL) и фототока, при подключении к внешним фотодиодам, во всем диапазоне телекоммуникационных длин волн. Данные измерения отличаются большим динамическим диапазоном, быстрой скоростью и высоким оптическим разрешением. Также CTP10 обладает способностью использовать несколько лазеров одновременно.
Заказать
Тестирование компонентов
В наличии
CT440 представляет собой компактный тестер для быстрого и точного определения характеристик как пассивных оптических компонентов (MUX/DEMUX, фильтры, разветвители), так и активных модулей (ROADM, WSS). Прибор охватывает спектральный диапазон от 1240 до 1680 нм, что позволяет проводить измерения во всем телекоммуникационном диапазоне. С опцией PDL CT440 может одновременно измерять вносимые потери и потери, зависящие от поляризации.
Заказать
